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——某3C精密制造企業(yè)模具優(yōu)化與質(zhì)量管控案例
一、項(xiàng)目背景與行業(yè)痛點(diǎn)
鎂合金具有密度小、強(qiáng)度高、耐腐蝕性好等優(yōu)點(diǎn),成為筆記本電腦外殼主流材料。沖壓模具作為批量生產(chǎn)筆記本電腦鎂合金背板的核心工具,其精度直接決定了產(chǎn)品的尺寸一致性、結(jié)構(gòu)可靠性與外觀品質(zhì)。微米級(jí)模具誤差可能在沖壓過程中被放大至毫米級(jí)(mm),進(jìn)而引發(fā)連鎖質(zhì)量問題。
某3C精密制造企業(yè),在加工筆記本電腦背板零部件時(shí),需通過分析沖壓模具的型面輪廓、弧度偏差、行腔深度以及孔位位置度,以此通過試模分析產(chǎn)品弧度和厚度是否均勻,保證產(chǎn)品質(zhì)量,因此急需一套能實(shí)現(xiàn)背板模具缺陷與磨損全尺寸檢測(cè)的3D掃描檢測(cè)系統(tǒng)。

沖壓模具檢測(cè)的重要性
二、傳統(tǒng)檢測(cè)方式面臨三大挑戰(zhàn)
1、精度不足:手工卡尺抽檢僅覆蓋局部點(diǎn)位,無法捕捉曲面微米級(jí)變形(如模具磨損導(dǎo)致的邊緣增厚);
2、效率低下:三坐標(biāo)測(cè)量單件耗時(shí)長(zhǎng),只能打點(diǎn)測(cè)量,難以實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品特征全檢需求,無法生成全曲面可視化報(bào)告;
3、逆向修正難:模具磨損導(dǎo)致的批次性偏差無法快速定位,試模成本高昂。
三、工業(yè)級(jí)藍(lán)光三維掃描技術(shù)應(yīng)用
新拓三維XTOM工業(yè)級(jí)藍(lán)光三維掃描儀,采用藍(lán)光光柵投射,500-900萬高分辨率工業(yè)相機(jī),能夠捕捉更精細(xì)的細(xì)節(jié)信息,對(duì)于小型且對(duì)精度要求較高的零部件進(jìn)行掃描時(shí),能夠更準(zhǔn)確地捕捉復(fù)雜輪廓、外形、結(jié)構(gòu)等特征。
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指標(biāo) |
人工抽檢&三坐標(biāo) |
升級(jí)后(藍(lán)光3D掃描全檢) |
價(jià)值提升 |
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檢測(cè)覆蓋率 |
表面區(qū)域(離散點(diǎn)/三坐標(biāo)打點(diǎn)) |
100%表面+邊緣(500萬點(diǎn)云) |
規(guī)避漏檢導(dǎo)致的客戶質(zhì)量返工率降低 |
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厚度分析維度 |
單點(diǎn)實(shí)測(cè)值(無分布趨勢(shì)) |
厚度統(tǒng)計(jì)直方圖+3D偏差色譜圖 |
識(shí)別沖壓模具缺陷風(fēng)險(xiǎn),優(yōu)化精度一致性 |
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數(shù)據(jù)可追溯性 |
紙質(zhì)記錄(易丟失/篡改) |
數(shù)字化存檔(型號(hào)/時(shí)間/模具號(hào)綁定) |
實(shí)現(xiàn)質(zhì)量問題高效精準(zhǔn)溯源 |
沖壓模具質(zhì)量數(shù)據(jù)化管控
1、尺寸精度控制
采用藍(lán)光三維掃描技術(shù),能夠精確測(cè)量背板模具各個(gè)部件及整體的尺寸,有助于及時(shí)發(fā)現(xiàn)因缺陷、磨損或厚度不均可能產(chǎn)生的尺寸偏差問題。
2、曲面弧度檢測(cè)
通過3D掃描數(shù)據(jù)與CAD模型的比對(duì),輸出全曲面偏差色譜圖,可精準(zhǔn)分析弧面偏差值以及偏差位置;并有助于根因溯源:分析對(duì)應(yīng)模具受損及修模參數(shù)。
3、厚度分布檢測(cè)
基于工業(yè)級(jí)藍(lán)光3D掃描高密度點(diǎn)云,統(tǒng)計(jì)厚度均值與標(biāo)準(zhǔn)差,分析被測(cè)件厚度“薄點(diǎn)”集中區(qū)(沖壓應(yīng)力集中導(dǎo)致材料拉伸過度),有助于調(diào)整模具尺寸參數(shù),改進(jìn)沖壓工藝。
四、實(shí)際案例:筆記本電腦背板模具3D檢測(cè)
高精度三維掃描能夠?qū)崿F(xiàn)全尺寸測(cè)量,為形變分析提供了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)基礎(chǔ),若是產(chǎn)品形面、弧度和厚度偏差不合格時(shí),結(jié)合模具3D掃描分析,可快速進(jìn)行模具調(diào)整,在試模、試產(chǎn)過程中更加順暢。
使用XTOM工業(yè)級(jí)藍(lán)光三維掃描儀多角度掃描模具,實(shí)時(shí)生成高密度點(diǎn)云(單幀可達(dá)百萬級(jí)數(shù)據(jù)點(diǎn)),復(fù)雜區(qū)域(如內(nèi)凹結(jié)構(gòu))可通過調(diào)整掃描角度或使用探針補(bǔ)充細(xì)節(jié)。
通過掃描軟件剔除雜散點(diǎn),平滑曲面,自動(dòng)拼接為完整3D數(shù)據(jù)模型,將掃描3D數(shù)模與原始設(shè)計(jì)CAD導(dǎo)入檢測(cè)軟件,進(jìn)行3D偏差分析(色差圖顯示超差區(qū)域),對(duì)關(guān)鍵尺寸進(jìn)行檢測(cè)驗(yàn)證。
實(shí)際案例:數(shù)據(jù)分析
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